什么是存储测试？
在系统级测试 (SLT) 中，集成电路制造商通过模拟终端用户环境，进行软件测试并检查 IP 块间的连接。 无论是测试 I/O 协议栈、IP 块间接口，还是检验各种时钟域、功率域、温度域以及硬件/软件的交互，SLT 都是十分经济高效的方法。
为何选择昂科的存储测试系统？
昂科的V9000-ABI平台是业内首创的全自动Burn-In测试分选平台，创新的将传统Burn-In测试过程完全自动化，摒弃了传统BI过程中的ESD失效、可追溯性、在线AOI检测等痛点问题，广泛应用于eMMC、UFS、Nand/Nor Flash等存储器件的老化测试需求。老化测试在其他应用领域也有着广泛的应用，例如汽车 ADAS、信息娱乐器件以及AI数据服务器等。
随着 5G、人工智能 (AI)、增强现实 (AR) 以及虚拟现实 (VR) 等高端技术的兴起，半导体元器件日趋复杂。 工艺节点也在不断缩小，集成电路设计人员因而可以创造出更完整的片上系统 (SoC) 产品。为了提升效能和降低功耗，这些产品越来越依赖于14nm、7nm、甚至更加高端的半导体制造制程，同时也使得CoWoS等先进封装工艺越来越得到了广泛的应用。高端制程和先进封装是半导体制造工艺的两大法宝，但其却进一步提升了芯片缺陷的可探测行的难度，传统的CP、FT甚至是SLT都不能很好的覆盖检测出工艺中引入的产品缺陷。因此，通过加速老化的方法将芯片的潜在缺陷提前暴露出来，并将之从成品中分选出来成为一个有效的筛选手段，并越来越受到了先进半导体企业的重视。
此外，Burn-In还可以提高覆盖率，满足终端客户对测试故障覆盖率的严格要求，提高产品质量。因此，它是晶圆和封装ATE测试中结构与功能测试的很好补充。
昂科核心团队在半导体测试行业均有超过20年的行业经验，公司自成立以来，一直秉承着“创新是企业的生命力”的理念，公司有数百人的专业软硬件工程师团队，我们借鉴了智能汽车行业“软件定义汽车”（SDV，Software Defined Vehicles）的设计理念，创新性的提出在半导体测试设备的软硬件开发过程通过“软件定义仪器”（Software Defined Instruments）进行产品开发。同时进一步探索软件架构服务化实现/落地方式，通过定义面向服务化的软件架构（SOA，Service-Oriented Architecture），将硬件、MCAL硬件抽象层、原子服务、APP分层解耦，实现应用按需组装、基础功能块正交、接口分层可复用、软/硬件全解耦的全服务化软件构架，这样就搭建了昂科半导体测试产品的基础构架。
V9000-ABI平台可以降低测试成本，加快产品上市速度，大幅降低量产化Burn-In的成本。昂科V9000-ABI凭借可靠品质和快速、批量的交付能力、优质的服务获得广大客户的认可。昂科在老化测试行业变革与发展的前沿坚持创新，推出更加高效、优质的产品，助力先进驾驶辅助系统(ADAS)、信息娱乐器件、AI及数据服务器、GPU以及平板电脑等行业进一步发展。
