芯片测试分选_半导体测试_芯片老化测试_深圳市昂科技术有限公司

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全自动老化测试方案,提升系统效率3倍!
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超高并测数,最高可支持1024DUT同测
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高精度视觉定位技术,精密芯片取放P&P组件
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完善的3D AOI系统,确保产品质量和可追溯
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新闻动态

昂科闪耀NEPCON CHINA2025 定义芯片烧录与测试新标杆
昂科闪耀NEPCON CHINA2025 定义芯片烧录与测试新标杆
2025-04-28
4 月22日至24日,第三十三届中国国际电子生产设备暨微电子工业展览会(NEPCON China 2025)在上海世博展览馆圆满收官。作为全球电子制造领域的年度盛会。昂科技术以1号馆1B35展位为舞台,凭借 "芯片烧录+测试" 双轮驱动的技术矩阵,向行业展示了其在半导体后道工艺领域的领先实力,成为展会最受关注的焦点之一。
NEPCON上海之约--昂科芯片测试烧录亮点大揭秘
NEPCON上海之约--昂科芯片测试烧录亮点大揭秘
2025-04-10
随着科技的飞速发展,电子制造行业正迎来前所未有的变革。继3月的上海双展结束后,昂科又将迎来4月的上海重量级展会。2025年4月22日至24日,第三十三届中国国际电子生产设备暨微电子工业展将在上海世博展览馆隆重举行。作为半导体烧录及测试设备的领军企业,昂科技术携其创新的芯片烧录与测试解决方案将亮相本次展会。
创新驱动AI、新能源与车用科技 新唐科技2025新品发布会将开启
创新驱动AI、新能源与车用科技 新唐科技2025新品发布会将开启
2025-04-03
昂科技术作为全球领先的芯片烧录和测试设备解决方案提供商,近年来不断完善布局芯片烧录和测试设备产业链,为芯片的质量保障提供有力支持。新唐科技2025新品发布会将于2025年4月15日至25日,在全国7大城市巡回举办。昂科技术作为新唐科技的生态合作伙伴,即将参加此次新品发布会北京、上海、深圳三站,在现场将为您演示昂科创新性的芯片烧录和测试技术方案。

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