芯片测试分选_半导体测试_芯片老化测试_深圳市昂科技术有限公司

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全自动老化测试方案,提升系统效率3倍!
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超高并测数,最高可支持1024DUT同测
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高精度视觉定位技术,精密芯片取放P&P组件
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完善的3D AOI系统,确保产品质量和可追溯
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新闻动态

重磅!泰瑞达与昂科技术达成战略合作,共握中国存储测试产业新变量
重磅!泰瑞达与昂科技术达成战略合作,共握中国存储测试产业新变量
2025-06-24
2025年6月17日,半导体测试领域迎来里程碑时刻!全球半导体自动测试设备领军企业泰瑞达(TERADYNE)与昂科技术(ACROVIEW)正式签署战略合作协议,签约仪式在位于深圳市南山区科技园的汉京金融中心7楼的昂科技术总部圆满完成。双方高层领导、半导体行业协会领导、重要客户代表及昂科员工齐聚一堂,共同见证这一具有深远意义的合作启动。
昂科闪耀NEPCON CHINA2025 定义芯片烧录与测试新标杆
昂科闪耀NEPCON CHINA2025 定义芯片烧录与测试新标杆
2025-04-28
4 月22日至24日,第三十三届中国国际电子生产设备暨微电子工业展览会(NEPCON China 2025)在上海世博展览馆圆满收官。作为全球电子制造领域的年度盛会。昂科技术以1号馆1B35展位为舞台,凭借 "芯片烧录+测试" 双轮驱动的技术矩阵,向行业展示了其在半导体后道工艺领域的领先实力,成为展会最受关注的焦点之一。
NEPCON上海之约--昂科芯片测试烧录亮点大揭秘
NEPCON上海之约--昂科芯片测试烧录亮点大揭秘
2025-04-10
随着科技的飞速发展,电子制造行业正迎来前所未有的变革。继3月的上海双展结束后,昂科又将迎来4月的上海重量级展会。2025年4月22日至24日,第三十三届中国国际电子生产设备暨微电子工业展将在上海世博展览馆隆重举行。作为半导体烧录及测试设备的领军企业,昂科技术携其创新的芯片烧录与测试解决方案将亮相本次展会。

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