芯片测试分选_半导体测试_芯片老化测试_深圳市昂科技术有限公司

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全自动老化测试方案,提升系统效率3倍!
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超高并测数,最高可支持1024DUT同测
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高精度视觉定位技术,精密芯片取放P&P组件
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完善的3D AOI系统,确保产品质量和可追溯
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新闻动态

重磅!泰瑞达与昂科技术达成战略合作,共握中国存储测试产业新变量
重磅!泰瑞达与昂科技术达成战略合作,共握中国存储测试产业新变量
2025-06-24
2025年6月17日,半导体测试领域迎来里程碑时刻!全球半导体自动测试设备领军企业泰瑞达(TERADYNE)与昂科技术(ACROVIEW)正式签署战略合作协议,签约仪式在位于深圳市南山区科技园的汉京金融中心7楼的昂科技术总部圆满完成。双方高层领导、半导体行业协会领导、重要客户代表及昂科员工齐聚一堂,共同见证这一具有深远意义的合作启动。
昂科闪耀NEPCON CHINA2025 定义芯片烧录与测试新标杆
昂科闪耀NEPCON CHINA2025 定义芯片烧录与测试新标杆
2025-04-28
4 月22日至24日,第三十三届中国国际电子生产设备暨微电子工业展览会(NEPCON China 2025)在上海世博展览馆圆满收官。作为全球电子制造领域的年度盛会。昂科技术以1号馆1B35展位为舞台,凭借 "芯片烧录+测试" 双轮驱动的技术矩阵,向行业展示了其在半导体后道工艺领域的领先实力,成为展会最受关注的焦点之一。
共赴芯约 昂科邀您相聚第21届华南SMT学术与应用技术年会
共赴芯约 昂科邀您相聚第21届华南SMT学术与应用技术年会
2025-12-09
当半导体的浪潮席卷全球制造业,每一次技术迭代都在重塑产业格局。2025年12月18日,承载行业期待的第21届中国·华南SMT学术与应用技术年会将在深圳宝安登喜路国际大酒店启幕。作为半导体芯片测试和烧录领导者,昂科技术携广东省电子学会SMT专委会会员之责,已备妥技术沉淀与创新思考,静候与行业同仁共赴这场年度盛会。

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