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昂科的V9000系列测试分选机，应用于AI服务器的高可靠性电源模块、AI⼤模型训练芯片SOC、GPU、CPU、汽车级智能驾驶SOC等产品的Burn-In可靠性测试。
V9000系列全⾃动老化测试机，革命性的提出了Burn-In测试“全在线”的方案，将Burn-In测试全流程均纳入自动管控流程，避免了由于人工操作的介⼊而引起的无记录、不可追溯和潜在的ESD风险。同时，昂科独创的TempJIT™大功率老化测试温控技术，最高可支持单DUT功率⾼达1500W，是当前传统老化测试设备的最高功率支持能力1.5倍以上。
V9000-ABI整机布局
特色功能
全流程ESD管控、离子风机全覆盖
业界最佳热测试性能，最高支持单DUT耗散功率超过1000W
模块化设计，测试单元可支持独立升级和维护不影响生产
DUT独立控温，超高温控精度，降低老化功耗
超大电流可编程电源，支持大功率DUT测试
完善的AOI检测，可选3D5S视觉检测及芯片二维码读取功能 -
可处理器件 QFN QFP LGA PLCC PGA CSP TSOP etc. 器件尺寸范围 From3*3---100*100mm 操作模式 正常模式 练习模式 空跑模式 控制系统 工业计算机 操作系统 WINDOWS MTBA >4H UPH UPH≥1000 Down Time <3% （连续运行3月） Index Time <0.4s Min0.38s Jam Rate ≤1/5000 温度控制范围 Room Temp-125℃ (DUT最高可达150℃) Tray规格 JEDEC标准 进出盘机构 1*自动上料/4*自动下料 （可扩展） 空盘传送 夹爪型 软件分BIN Bin1-16 电源规格 50/60Hz Max 50A AC 380（三相） 整机重量 3500KG 设备外尺寸 3189x3400x1920mm