超大容量堆叠式测试系统
是市面常见设备的10倍以上的容量
预留天车、AGV接口
独立温控、压力控制系统
每颗芯片独立的温控检测系统
温控、压力控制更精准
CCD相机智能定位和调整
四组工业相机，精准搬送
Auto Teach自动调整
ESD保护系统
顶尖公司认可的ESD处理系统
全内置进出料系统
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V9000-SLT-M是昂科推出的高性能存储芯片测试分选机，本设备主要用于对eMMC、eMCP，LPDDR，UFS，UMCP等产品常温，高温环境下的Burn-in自动测试分选。
超高并测数:支持1200个DUT并行测试
独立温控设计，提供目标DUT极佳的温控精度和均匀性
高精度视觉AOI检测，确保测试质量
引入AI大模型打造IC测试智能化
支持温度、压力全电控调节，电测支持全功能PMU
工作效率为目前市面上普通设备的十倍
特色功能
精准的独立温控技术
1200超高DUT同测数
模块化测试库设计支持快速换线
完善的全流程追溯管控