超高并测数，最高可支持1200 DUT同时测试
独立温控设计，提供目标DUT极佳的温控精度和温度均匀性
支持超高功率SOC的SLT测试，系统供电能力最高
可支持1.5KWperDUT
支持三温SLT测试,测试温度范围-40°C~+125°C
提供多种通讯接口模式，包括TCP/IP、UART、USB及串口等
超高坪效，极大降低客户TOC(Test of Cost)测试成本
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昂科的V9000-SLT系列系统级测试分选机，应用于LPDDR等高速存储器件、AI服务器、边缘计算控制器、高速互联IC、CPU、GPU、汽车电子大规模SOC等领域集成电路产品的系统级测试。该SLT测试分选系统与昂科全球首创的ABI全自动老化测试机V9000系列同平台，革命性的提出了堆叠式SLT测试的创新解决方案，极大的提升了SLT测试的并测DUT数量，通过创新的模块化设计测试单元,相对于传统的平移式SLT测试Handler效能提升10倍以上。
全球第一款堆叠式SLT测试机
测试效率10X提升！
特色功能
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可处理器件 QFN QFP LGA PLCC PGA CSP TSOP etc. 器件尺寸范围 From3*3---100*100mm 操作模式 正常模式 练习模式 空跑模式 控制系统 工业计算机 操作系统 WINDOWS MTBA >4H UPH UPH≥1000 Down Time <3% （连续运行3月） Index Time <0.4s Min0.38s Jam Rate ≤1/5000 温度控制范围 Room Temp-125℃ (DUT最高可达150℃） Tray规格 JEDEC标准 进出盘机构 1*自动上料/4*自动下料 （可扩展） 空盘传送 夹爪型 软件分BIN Bin1-16 电源规格 50/60Hz Max 50A AC 380（三相） 整机重量 3500KG 设备外尺寸 3189x3400x1920mm