-
HyperTEST是昂科的一款创新型FT测试设备,适用于各类Nand/NorFlash、MCU/MPU SOC/SiP、及特殊应用ASIC的FT测试。该方案可支持超高并测数：128DUT，并结合低成本大容量LoadBoard设计，为NorFlash、NandFlash和其他新型存储芯片提供最具TOC成本优势的FT解决方案。
超高并测数：128DUT，是传统设备8倍
超高UPH：测试时间40秒以内可达5000 UPH
长测试时长Nor/Nand Hash、MCU、SiP的理想FT方案
20+年的日本Pick&Place技术，稳定高品质
灵活的进出料设计，支持多种进出料方式
超高UPH>5000
Test Cycle Time 40秒以内不降速！
特色功能
PPZ吸嘴数量：8
取放方式：同取同放
高精度伺服驱动(+/-0.04mm)
自带真空发生器，无需另外安装真空泵
支持变距：20mm-40mm
TubeIN料组件一次性装管数量:Max50管
IC连续供料间隔速度：最快0.3秒/Pcs
换管方式：自动
适用IC封装规格：SOP
IC料管宽度：7.6mm~15mm
PPU吸头数量：2
吸头间距：55mm
连续搬运熟读：最快0.3秒/PcS
搬运方式：真空吸附